Железо ПК
Для начинающих пользователейДля любопытных пользователей
Для продвинутых пользователей
Трюки
Базовые операции с системной платойНастройка системной платы
Процессор
Память
Жесткие диски
Производительность жестких дисков
Видео
Устройства ввода/вывода
Загрузка
Настройка нового компьютера
Аппаратные интерфейсы ПК
ВведениеПараллельный интерфейс— LPT-порт
Последовательный интерфейс — СОМ-порт
Беспроводные интерфейсы
Последовательные шины USB и FireWire
Шина SCSI
Шины и карты расширения
Интерфейсы электронной памяти
Специализированные интерфейсы периферийных устройств
Интерфейсы устройств хранения
Интерфейсы компьютерных сетей
Вспомогательные последовательные интерфейсы и шины
Архитектурные компоненты IBM PC-совместимого компьютера
Интерфейсы питания, заземление и гальваническая развязка
Вспомогательные последовательные интерфейсы и шины
11.7, на котором показана условная цифровая система, имеющая входные, выходные (возможно, с третьим состоянием) и двунаправленные сигналы. Ячейки тестирования B/S врезаются между реальными внешними выводами устройства и собственно ло¬гическим устройством, то есть располагаются на логической границе (boundary) устройства. ТАР-контроллер способен сканировать ячейки — управлять ими и считывать с них информацию. Отсюда и пошло название Boundary Scan, которое можно перевести как «периферийное сканирование». При включенном тестовом режиме ТАР-контроллер может логически отсоединить сигналы от внешних выво¬дов, задавать входные воздействия и считывать результаты — собственно, это все, что необходимо для тестирования последовательностных схем (автоматов с памя¬тью). Прелесть JTAG заключается в том, что независимо от сложности устройства оно тестируется с помощью всего лишь четырех сигналов — все сложности прячут¬ся в достаточно простые ячейки, «окутывающие» его сигнальные выводы.
Тестовая логика, встраиваемая в устройство, поддерживающее JTAG, состоит из следующих элементов:
♦
тестовый порт ТАР (четыре интерфейсных сигнала);
♦
ТАР-контроллер, управляющий тестовыми регистрами;
♦
регистр инструкций IR (Instruction Register), который принимает последова¬
тельный код со входа TDI (код инструкции используется для выбора исполня¬
емой тестовой операции или регистра тестовых данных, к которым произво¬
дится обращение);
♦
регистры тестовых данных, из которых любое устройство должно иметь три
обязательных регистра: В PR (Bupas Register), DID (Device Identification Register) и BSR (Boundary Scan Register).
Регистры инструкций и данных представляют собой независимые сдвиговые ре¬гистры, соединенные параллельно. На их входы (старшие биты) приходит сигнал TDI, с выходов (младшие биты) снимается сигнал ТОО. По каждому положитель¬ному перепаду данные продвигаются на один бит.
Регистр В Р R имеет длину в один бит. Он используется как кратчайший обходной путь для последовательных данных, когда остальные регистры не участвуют в обмене.